Product Demonstration
符合標準:
MIL-STD-883D、GJB597等試驗標準。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的78XX、79XX、117、137、200等系列的集成穩(wěn)壓電路進行高溫條件下壽命老化。
技術特點:
一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。
試驗條件可從老化器件數(shù)據庫直接調出，方便操作。
電子負載工作電流，試驗電壓可程控設定。
電子負載具有雙向性。
可監(jiān)測全過程試驗器件的結溫Tj(此功能非標配)。
