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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    分立器件綜合老化測試系統(tǒng)

    符合標準:

    MIL-STD-750D、GJB128等試驗標準。

    適用范圍:

    適用于各種封裝形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩(wěn)壓器、光電耦合器、電阻等等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗(CFOL)和間歇壽命試驗(IFOL)。

    技術(shù)特點:

    適用范圍廣,可滿足多種分立元器件的常溫壽命老化。

    具有手動、自動加電模式。


    技術(shù)性能

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