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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    橋堆高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)

    符合標(biāo)準(zhǔn):

    AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

    適用范圍:

    適用于各種封形式的橋堆件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn)(HTRB)。

    技術(shù)特點(diǎn):

    實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流。

    全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


    技術(shù)性能

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