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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    微波器件高溫壽命老化測試系統(tǒng)

    符合標準:

    AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗標準。

    適用范圍:

    適用于各種封裝形式的微波功率器件在高溫下的正向壽命試驗。

    技術(shù)特點:

    針對大功率微波器件每顆器件獨立加熱板溫控。

    每顆器件獨立的Vd、Vg控制,獨立的Id控制。 

    兼容穩(wěn)態(tài)壽命、間歇壽命試驗 。


    技術(shù)性能

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