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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    可控硅老化測(cè)試系統(tǒng)

    符合標(biāo)準(zhǔn):

    MIL-STD-750、GJB-128、AEC-Q101等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

    適用范圍:

    適用于各種封裝形式的可控硅(閘流晶體管)壽命試驗(yàn)(功率循環(huán))和耐壓試驗(yàn)。 


    技術(shù)性能

    表格 p28.png

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