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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)(Hast)

    符合標(biāo)準(zhǔn):

    AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

    適用范圍:

    適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)

    行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。

    技術(shù)特點(diǎn):

    每顆器件的Vgs獨(dú)立控制。

    實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、Ig。

    控制上、下電時(shí)序。

    全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel

    試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。



    技術(shù)性能

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