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    杭州高裕電子科技股份有限公司

    產(chǎn)品展示

    Product Demonstration

    Product Demonstration

    產(chǎn)品展示

    微波器件高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)

    符合標(biāo)準(zhǔn):

    AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

    適用范圍:

    適用于各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進行高溫反向試驗。

    技術(shù)特點:

    每顆器件的Vgs獨立控制。

    實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、Ig。

    控制上、下電時序。

    全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。



    技術(shù)性能

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